非接觸式金屬膜厚測量儀

昊量光電新推出用于導電薄膜和薄金屬層膜厚測量的非接觸式金屬膜厚測量儀EddyCus TF Series，這款金屬膜厚測量儀可以非接觸式實時測量，對導電薄膜的膜厚精確測量，表征已被隱藏和封裝的導電層，并把測量數(shù)據(jù)保存和導出。

非接觸式 金屬膜厚測量儀主要測試對象：

• 鍍膜建筑玻璃，如LowE

• 顯示器，觸摸屏和平板顯示器

• OLED和LED

• 智能玻璃

• 石墨烯層

• 光伏晶圓和電池

• 半導體晶片

• 金屬化層和晶圓金屬化

• 電池電極
  

• 導電涂布紙和導電紡織品

單點金屬 膜厚測量儀EddyCus TF lab 2020MT

單點金屬 膜厚測量儀EddyCus TF lab 2020MT可以對透明和非透明層的非接觸金屬厚度進行測量。測量是通過非接觸式渦流傳感器實現(xiàn)的。它可以實時地對已知或確切的常數(shù)電導率的材料的進行厚度測量。這種非接觸測試技術(shù)能夠在較寬的厚度范圍內(nèi)進行精確測量，從幾納米厚度開始，一直到厚金屬板的表征。電渦流技術(shù)還能夠?qū)Ρ挥泻Σ牧细采w的金屬層進行表征。單點金屬膜厚測量儀也可以為非常薄的膜層以及非常厚的金屬和普通合金提供特定的材料設(shè)置。該測量方法具有ji強的魯棒性和高重復性和高精度。此外，它不需要任何光學透明度，也不用物理接觸。

軟件和設(shè)備控制：

• 非常用戶友好的軟件

• 直觀的觸摸顯示導航

• 實時測量板材電阻和層厚

• 軟件輔助手動映射選項

• 各種數(shù)據(jù)保存和導出選項

  
  

非接觸式 金屬膜厚測量儀規(guī)格參數(shù)：

非接觸式 金屬膜厚成像測量儀EddyCus TF map 2530MT

非接觸式 金屬膜厚成像測量儀EddyCus TF map 2530MT是一種非接觸式厚度成像系統(tǒng)。這款金屬膜厚成像設(shè)備利用非接觸式渦流傳感器來確定任何已知電導率或特征電導率剖面，如金屬或合金材料的厚度。這種非接觸式測試技術(shù)可以在較寬的厚度范圍內(nèi)進行精確測量，厚度范圍從幾納米到毫米。此外，它還可以應用于非導電材料封裝的薄膜。該測量方法具有良好的魯棒性和較高的重復性和精度。它不受光學特性的影響，有利于各種生產(chǎn)非透明金屬薄膜的行業(yè)。這種緊湊的臺式系統(tǒng)用于制造研發(fā)和測試實驗室的快速測試或系統(tǒng)質(zhì)量保證的廣泛應用。

軟件和設(shè)備控制：

• 非常用戶友好的軟件

• 實時映射測量

• 易于使用的統(tǒng)計分析選項

• 預定義的測量和產(chǎn)品配方(尺寸、音高、閾值)

• 直線掃描，直方圖和區(qū)域分析

• 黑色和彩色圖像編碼

• Csv & PDF導出

• PC匯總導出

• 用于參數(shù)轉(zhuǎn)換的材料數(shù)據(jù)庫

• 邊緣效應的補償

• 數(shù)據(jù)的存儲和導入

• 導出數(shù)據(jù)集(如eddyva, MS Excel, Origin)

非接觸式 金屬膜厚測量儀規(guī)格參數(shù)：

手持式金屬 膜厚測量儀EddyCus TF portable1010

手持式金屬 膜厚測量儀EddyCus TF portable1010一種方便和便攜的測量設(shè)備，用于生產(chǎn)或現(xiàn)場的大型玻璃和金屬箔的快速接觸測量，例如在制造后的快速質(zhì)量檢查或作為來料良好的檢查。手持設(shè)備允許測量甚至隱藏和封裝層。這是一個易于使用的設(shè)備，通過觸摸顯示器控制。

• 手工質(zhì)量控制，進料檢驗，出料檢驗

• 導電材料的接觸表征

• 單點接觸測量(要求恒距離測量)

• 150 x 150毫米的平面表面(50 x 50毫米和100 x 100毫米可選)

  
  

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