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激光測量設(shè)備

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C、L波段可調(diào)諧激光器1527.605-1611.787nm
Laser-1000是一款連續(xù)波、單頻、C、L波段可調(diào)諧激激光器，可調(diào)范圍覆蓋整個C、L波段，功率可達16.5dbm，線寬可達100 kHz，調(diào)諧分辨率0.01 pm，C、L波段可調(diào)諧激光器是一款用途廣泛、成本效益高的通用儀器。C、L波段可調(diào)諧激光器1527.605-1611.787nm

型號：廠商性質(zhì)：代理商
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CinCam Pico系列超小尺寸光束分析儀
超小尺寸光束分析儀-CinCam Pico系列由于其高的分辨率和小的像素尺寸，CinCam確保了在對連續(xù)和脈沖激光光束測量分析時的高準確度。其即插即用的設(shè)計保證了設(shè)備的易兼容性和操作的簡易型。此外Cincam光束分析儀通用的C/F-Mount接口設(shè)計，使外加衰減片、擴束鏡、紫外轉(zhuǎn)換裝置、紅外轉(zhuǎn)換裝置更為方便。

型號：CinCam Pico系列廠商性質(zhì)：代理商
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手持式膜厚測量儀
手持式膜厚測量儀-MProbe 20 HC（彎曲表面）基于MProbe 20 平臺可以輕松測量曲面和大型零件的薄膜厚度，MProbe 20 具有專為單層和雙層應(yīng)用優(yōu)化的數(shù)據(jù)分析算法。

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MPROBE 70在線薄膜厚度實時測量儀系統(tǒng)
在線薄膜厚度實時測量儀系統(tǒng)-MPROBE 70是一種高性能厚度測量系統(tǒng)。在線薄膜厚度實時測量儀-MPROBE 70基于光譜反射率和/或透射率測量，專為產(chǎn)線的連續(xù)測量而設(shè)計

型號：MPROBE 70 廠商性質(zhì)：代理商
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MPROBE 60薄膜厚度均勻度在線測量系統(tǒng)
薄膜厚度均勻度在線測量系統(tǒng)-MPROBE 60，MProbe 60 是一站式系統(tǒng)，專為研發(fā)中心和小型制造而設(shè)計。它結(jié)合了測量厚度/n&k 與自動化小點測量的能力。MProbe 60 已應(yīng)用于研發(fā)納米技術(shù)中心。

型號：MPROBE 60 廠商性質(zhì)：代理商
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MPROBE 50 INSITU原位薄膜厚度測量儀
原位薄膜厚度測量儀-MPROBE 50 INSITU-昊量用于測量薄膜厚度和 n&k（光學(xué)常數(shù)）的實時光學(xué)測量儀。該系統(tǒng)可以在高環(huán)境光下工作，因為它使用門控數(shù)據(jù)采集。

型號：MPROBE 50 INSITU 廠商性質(zhì)：代理商
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MPROBE 40 MSP微小區(qū)域薄膜厚度測量儀
微小區(qū)域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP，MProbe 40 測量薄膜厚度和折射率單擊鼠標在小地方。顯微分光光度計 (MSP) 集成在系統(tǒng)中同時結(jié)合顯微鏡，用于小點薄膜厚度測量。

型號：MPROBE 40 MSP 廠商性質(zhì)：代理商
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寬帶飛秒光纖激光器-多色雙光子顯微專用
寬帶飛秒光纖激光器-多色雙光子顯微專用SCH提供了非常寬的光譜帶寬，在近紅外光譜中擴展到900-1200nm光譜。這與大多數(shù)綠色和紅移熒光標記的雙光子激發(fā)光譜重疊，包括eGFP、mRFP和dred。

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寬帶飛秒光纖激光器
昊量光電新推出寬帶飛秒光纖激光器，其基于高功率1050nm飛秒光纖激光器結(jié)合LMA-PCF光子晶體光纖非線性轉(zhuǎn)換模組，飛秒光纖激光器將窄帶高峰功率脈沖轉(zhuǎn)換為波長為950 ~ 1200 nm的大功率寬帶輸出。

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DISCO超連續(xù)譜激光器
DISCO超連續(xù)譜激光器是指當(dāng)一束高強度的短脈沖通過非線性材料時，經(jīng)過一系列非線性效應(yīng)與線性色散的共同作用，使得出射光中產(chǎn)生許多新的頻率成分，從而使頻譜得到極大展寬的一種現(xiàn)象。超連續(xù)譜激光器（SupercontinuumSources）又稱超連續(xù)激光器、超連續(xù)光源、白光激光器。

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Moku:Pro_PID控制器PLL鎖相環(huán)
Moku:Pro_PID控制器PLL鎖相環(huán)，Moku:PID控制器的PID控制器具有四個*可配置的PID控制器，具有亞微秒的延遲。這使得它們能夠用于要求低和高反饋帶寬的應(yīng)用，如激光溫度和電流穩(wěn)定。通過使積分和微分控制器具有獨立的增益設(shè)置，PID控制器也可以用作超前滯后補償器。

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Moku:Pro頻率響應(yīng)分析儀
Moku:Pro頻率響應(yīng)分析儀是測量被測系統(tǒng)頻率特性的儀器。早期頻率特性的測量是用信號源、電壓表、頻率計、相位計、示波器等單機組成，儀器操作復(fù)雜，易受干擾，測量精度低。

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