激光干涉儀是如何測量位移的?
激光干涉儀是一種廣泛應用于科學研究、工業(yè)制造和精密測量領域的儀器。在科學研究領域,激光干涉儀廣泛應用于物理學、化學和生物學等多個學科,為研究人員提供了強大的工具。在工業(yè)制造中,激光干涉儀在精密加工、質量控制和自動化生產中發(fā)揮著關鍵作用。激光干涉儀的基本原理是利用激光的干涉效應進行測量和分析。在國際上,有多種常用的激光干涉儀技術,如邁克爾遜干涉儀、法布里-珀羅gan涉儀和雅各比干涉儀等。它們在不同領域展現(xiàn)出性能和應用潛力。
法布里-珀羅gan涉儀是一種常用的干涉儀,其為基于光學諧振腔原理的干涉儀器。核心是由兩平行的反射鏡構成的腔體,其中的激光通過多次反射形成諧振,從而形成干涉條紋。該技術在光譜分析、精密測量和光學傳感等領域得到廣泛應用。
圖2 干涉條紋
從圖1中我們可以看到,面光源置于透鏡L1焦平面處,使得不同方向的光束平行射入干涉儀,在P1,P2相向的表面鍍有高反膜,因此光束可以在P1,P2平面鏡中作來回多次的反射,透射的平行光在通過透鏡L2匯聚在其焦平面上形成如圖2所示的同心原型的干涉條紋。
圖3 多光束干涉原理示意圖
由圖3我們可以看出,一束振幅為A0的光束以入射角θ0入射,經過多次反射與投射,透射出相互平行的光束。設高反膜的反射率為,因此可得第1束透射光的振幅為,后續(xù)依次為
由等傾干涉可得,相鄰的透射光束的光程差為:
由此引起的相位差為:
若第1束透射光的初相位為零,因此各光束的相位依次為
透射光的振動可以用復數(shù)進行表示:
我們計算其和振動,其中利用了等比求和公式:
其中
因此可得:
求合振動強度時,針對分式項需要用到他與共軛復數(shù)的乘積:
因此合振幅的平方為:
其中 稱為艾里函數(shù),稱為精細度,體現(xiàn)出干涉條紋的精細程度。
當P為固定值時,A2與相關。當
時為zui大,
時為zui小。因此越大時,可P見度越顯著。
圖4 不同精細度的艾里函數(shù)圖
目前,激光干涉儀技術正處于不斷創(chuàng)新和發(fā)展的階段。隨著激光技術、光學器件和信號處理技術的不斷進步,激光干涉儀在精密測量、光學成像和光學通信等領域展現(xiàn)出更高的性能和應用潛力。激光干涉儀為了提高測量位移的精確度與穩(wěn)定性,涉及到激光光源的選擇與頻率穩(wěn)定、測距原理、相位解調、空氣折射率補償?shù)榷喾矫娣椒ê图夹g的綜合應用,國內外的研究現(xiàn)狀根據(jù)測距的基本原理可分為飛行時間法和干涉法兩大類。飛行時間法主要根據(jù)根據(jù)時間間隔的測量原理,通過直接或間接的方法測量發(fā)射脈沖與接受脈沖的時間間隔,進而計算目標距離。
干涉法量主要包括多波長干涉法、色散干涉法、雙光梳干涉法與頻率掃描干涉法。
多波長干涉法測量距離的原理基于不同波長光在光程差發(fā)生變化時引起的干涉現(xiàn)象。這個方法利用了不同波長光的相位變化關系,通過觀察干涉條紋的移動來確定測量目標的距離。這種方法在測距應用中具有高精度和靈敏度,尤其在需要非接觸和高精度的測量場景下。通過利用不同波長光的特性,多波長干涉法可以實現(xiàn)對目標距離的精確測量。
雙光梳干涉法是一種使用兩個頻率非常穩(wěn)定的光梳來實現(xiàn)高精度測距的方法。這種方法通過比較兩個光梳之間的頻率差異,從而測量目標的距離。通過觀察和分析這些干涉條紋的模式,可以確定兩個光梳之間的頻率差異。由于頻率差與目標距離有直接關系,因此可以通過測量頻率差來計算目標的距離。
本文將主要介紹頻率掃描干涉法。頻率掃描干涉法(FSI)也稱波長掃描干涉法,是通過激光在已知波長范圍內連續(xù)掃描,并在掃描過程中對干涉條紋進行無模糊計數(shù)實現(xiàn)絕對距離測量的,是真正的絕對、單步的距離測量方法。
圖5 頻率掃描干涉示意圖
頻率掃描干涉法利用頻率掃描激光分束后,測量兩個干涉儀的光程差的比值。如果兩個干涉儀中的一個的光程差是已知的,則可以確定第二干涉儀的光程差。具有已知光程差的干涉儀則被稱為參考干涉儀,并且具有假設在長時間內恒定的光程差。光程差未知的干涉儀被稱為測量干涉儀,并且假設其光程差也被假設為在掃描期間恒定。
斐索干涉儀具有零長度參考臂,因此光程差是干涉儀光學長度的兩倍(圖3中標記為LR和Lm)。接下來的討論均關于的光學長度而不是光程差。激光器將其頻率從起始頻率(νt0)掃描到結束頻率(νtn),并記錄兩個干涉儀輸出強度。干涉儀的輸出強度隨激光頻率和參考干涉儀產生的正弦函數(shù)的絕對相位呈正弦變化,由下式給出:
其中Φabs, ti, R是參考干涉儀在時間ti的絕對相位,LR是參考干涉計的長度,νti是激光在時間ti時的頻率,c是光速。通過掃描開始與掃描結束的時間,計算出相對相位:
其中Φ ti, R是在時間ti時參考干涉儀提取的相位,而νt0是掃描開始時的頻率。測量干涉儀的提取相位同樣由下式給出:
其中Φ ti, M是在時間ti時測量干涉儀提取的相位,LM是測量干涉儀的長度。上二式中的提取相位的比率等于長度的比率:
因此,如果測量干涉儀和參考干涉儀的長度在掃描期間是恒定的,并且參考干涉儀長度是已知的,則可以確定測量干涉儀長度。而當測量干涉儀在空氣中工作時,需要根據(jù)空氣折射率的影響對測量長度進行校正真實的光學長度。
昊量光電代理的德國Qutools公司出品的皮米級激光干涉儀,就基于頻率掃描干涉原理進行相對位移測量。通過快速波長掃描,波長掃描速度遠大于被測物位移速度,并添加了飽和氣室,通過氣體吸收線精細控制波長,精度可達<50 pm,分辨率1 pm,可同時進行三通道測量,并具有20—5000mm的工作距離。
圖6 quDIS激光干涉儀實物圖
圖7 quDIS激光干涉儀原理示意圖
此外,根據(jù)您的需求,我們還提供了不同型號的傳感頭,可以應用于不同需求的測試。quDIS為常規(guī)情況下的使用提供標準傳感器和定焦傳感器,同時根據(jù)具體的需要以及惡劣環(huán)境下的應用,也設計了響應的特殊傳感頭。
圖8 部分傳感器型號與參數(shù)
另外,針對在空氣環(huán)境下測量時,環(huán)境中溫度、濕度、壓強的影響都會導致空氣折射率產生變化,zui終影響到相對位移的測量。我們還提供了環(huán)境測量補償模塊,可以實時進行環(huán)境的溫度、濕度、壓強的測量,并實時計算出環(huán)境的空氣折射率,用于補償相對位移測量。
圖9 環(huán)境補償模塊參數(shù)
綜上,我們以FP干涉儀出發(fā),介紹了現(xiàn)今干涉儀的基本原理,并介紹了我們的quDIS激光干涉儀,若對產品有興趣,請聯(lián)系我們。
相關文獻:
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